25 Ноября 2024
В избранные
Сделать стартовой
Подписка
|
|
|
|||||
|
Технологии
Компания Japan Electron разработала новую модель электронного микроскопа "JEM-3100FFF", позволяющего анализировать структуры с расстоянием между элементами менее одного нанометра. Просвечивающий электронный микроскоп (Transmission Electron Microscope) оборудован специальным фильтром для проведения спектроскопии энергетических потерь электрона на атомном уровне (Electron Energy Loss Spectrum) и линзой, позволяющей работать с разрешением до 0,17 нанометра. Основным предназначением микроскопа является проведение исследований в области нанотехнологий. Фильтр для спектроскопии энергетических потерь электрона на атомном уровне (EELS) позволяет получить информацию о строении и свойствах исследуемого вещества, анализируя различия в траектории движения электронов в зависимости от уровней энергии атомов и молекул во время нахождения электронов под воздействием магнитного поля. В частности, микроскоп позволяет проанализировать структуру и свойства таких химических элементов как кислород и азот. Траектория движения электронов напоминает букву "омега", поэтому EELS фильтр получил название "Омега фильтр". Цена микроскопа составляет 340 миллионов йен (2 миллиона 556 тысяч долларов). Основные характеристики микроскопа "JEM-3100FFF": Ускоряющее напряжение - 300 кВ Увеличение - х200-х1500000
Рекомендуем
Обсуждение новости
| ||||||
|
||||||
|
||||||
Наш канал в Telegram
вверх
Пишите нам